Laboratorium och utrustning

Jeol JSM-6460
Jeol JSM-6460 Environmental Scanning Electron Microscope (SEM) with EDS, WDS and EBSD analysis.

JEOL JSM-6460

Environmental Scanning Electron Microscope (SEM) with EDS, WDS and EBSD analysis.

Jeol JSM-6460 bokning

Kolla om SEM är bokad

Google-kalender (Endast för behöriga)

[http://www.google.com/calendar/embed?src=ltu.se_6t8i13ugdts3h7ajrml4bl3o28%40group.calendar.google.com&ctz=UTC]

Jonets
Ion beam milling system for thinning of TEM samples.

BAL-TEC RES 010

Sputter
Rum: E272

Balzers SCD 050

Sputter for coating of SEM samples.

Röntgen
Rum: E276

Philips X´Pert, MRD system

X-ray diffractometer for multiple purposes.

STA 449C
Rum: E276

STA 449C

Mass spectrometer

DIL 402
Rum: E276

DIL 402

Dilatometer

Ugnar

Sidansvarig och kontakt: Kersti Bergkvist

Publicerad: 22 april 2006

Uppdaterad: 25 maj 2010

Redigera sidan

Luleå tekniska universitet