29 oktober 2024
Seminarium om avancerad materialanalys lockade över 70 deltagare
Luleå tekniska universitet stod nyligen värd för ett uppskattat lunchseminarium organiserat av LUMIA, ett forskningsinitiativ som samlar fyra avancerade laboratorier inom mikroanalys. Evenemanget, som lockade över 70 deltagare från forskarvärlden, industrin och akademin, bjöd på insikter om avancerade tekniker för materialanalys.
Seminariet inleddes med en presentation av Glenn Bark, universitetslektor i malmgeologi och verksamhetsledare för LUMIA (Luleå Material Imaging and Analysis), som betonade vikten av samverkan mellan forskning och teknologiska framsteg inom mikroanalys.
– Det här seminariet är ett tillfälle för oss att visa upp de unika tekniska möjligheterna som LUMIA har inom mikroskopi och röntgentomografi och hur vi kan använda dessa verktyg för att driva forskningen framåt, sade Bark.
Genom att föra samman avancerad utrustning och expertis syftar LUMIA till att skapa en grogrund för banbrytande forskning inom materialvetenskap och även ett utökat samarbete med större laboratorier som MAX IV samt den nationella plattformen för avancerad mikroskopi, ARTEMI.
Glenn Bark, universitetslektor i malmgeologi och verksamhetsledare för LUMIA (Luleå Material Imaging and Analysis)
Deltagarna fick ta del av flera djupgående föreläsningar som presenterade några av de mest avancerade teknikerna inom området, inklusive svepelektronmikroskopi (SEM), röntgentomografi (XCT) och FIB-SEM (Focused Ion Beam-Scanning Electron Microscopy). Mathis Warlo och Fredrik Forsberg, båda forskare kopplade till LUMIA, presenterade fördelarna och användningsområdena för SEM och XCT, och Daniel Jensen från TESCAN gav en detaljerad inblick i de möjligheter som FIB-SEM-tekniken erbjuder för högprecisionsanalys.
FIB-SEM-tekniken är en del av Luleå tekniska universitets WISE-plattformar (WISE, Wallenberg Initiative Materials Science for Sustainability), som stödjer hållbar teknik inom bland annat fossilfri stålproduktion, batteritillverkning och energilagring. LUMIA, som ansvarar för en av plattformarna, kommer under de närmaste månaderna att utöka sin verksamhet med två nya laboratorier: FIB-SEM och ett mer avancerat XCT-system. Genom FIB-SEM-laboratoriet samarbetar LUMIA med forskargruppen i maskinelement som äger den andra WISE-plattformen. På detta sätt gjuts initiativen LUMIA och WISE samman och en optimering av den mikroanalytiska verksamheten vid universitetet nås.
Erik Nilsson, expert inom SEM-analys och kopplad till LUMIA, kommenterade seminariets upplägg.
– Vi ville att detta seminarium skulle ge en helhetsbild av de analystekniker som vi erbjuder, och jag tror att vi lyckades skapa en bra balans mellan teori och tillämpning.
Förutom föreläsningar innehöll evenemanget även en frågestund där deltagarna hade möjlighet att ställa frågor direkt till experterna. Diskussionerna handlade bland annat om hur teknikerna kan tillämpas för att lösa utmaningar inom forskning och industri.
Seminariet var en del av en serie aktiviteter som syftar till att främja forskningssamarbeten och sprida kunskap om tekniska innovationer inom materialanalys och mikroskopi. Fler seminarier planeras fortlöpande.
Kontakt
Glenn Bark
- Universitetslektor
- 0920-491039
- glenn.bark@ltu.se
- Glenn Bark
Erik Nilsson
- Forskningsing 1:e
- 0920-491798
- erik.1.nilsson@ltu.se
- Erik Nilsson