Laboratorier och utrustning inom LUMIA

Inom LUMIA analyseras en stor variation av fasta material. Karaktärisering görs både gällande avbildning och kemisk sammansättning, oftast i mikro- till nanometerskala.

Information om hur du hänvisar till LUMIA i dina publikationer hittar du längst ner på den här sidan.

Laserassisterad fokuserad jonstråle-SEM – Tescan Amber X2

Wise-anknutet labb: läs mer om invigningen här

Tescan Amber X2 är en Xenon FIB-SEM utrustad med EDS-, EBSD- och ToF-SIMS-detektorer för att utföra sektionstomografi av prover för att möjliggöra 3D-visualisering av material. Den används också för provberedning av TEM-lameller och APT-nålar. Den har ett korrelativt arbetsflöde.

• SE-detektor samt ETD
• BSE-detektorer (inkl i LE-kammaren)
• Multidetektor
• EDS – Energidispersiv spektrometri (EDAX)
• EBSD – Elektron bakåtkastad diffraktion (EDAX)
• ToF-SIMS – Time of Flight sekundär jonmasspektrometer (ToFWerk)
• Programvara för automatiserad TEM-lamellberedning och tomografiundersökningar

Ansvarig: Erik Nilsson

Svepelektronmikroskopi – Zeiss Merlin

Zeiss Merlin FEG-SEM med EDS/WDS. Mikroskopet har en bildupplösning på ca 0,8 nm och är utrustat med:

• dubbla BSE-detektorer
• dubbla SE-detektorer (standard och in-lens)
• EDS (energidispersiv spektrometri)
• WDS (våglängdsdispersiv spektrometri)

För EDS/WDS-analys används analysplattformarna Aztec/Inca från Oxford Instruments. Möjligheter till automatiserad mineralogi finns via Aztec Feature samt Large Area Mapping.

Ansvarig: Mathis Warlo

Svepelektronmikroskopi – FEI Magellan

FEI Magellan 400 FEG-SEM (extreme high resolution SEM). Mikroskopet har en bildupplösning på ca 0,5 nm (0.5-30 kV) och är utrustat med:

• ETD: Everhart-Thornley detektor
• TLD: genomlinsdetektor (in-lens, extreme high resolution)
• vCD: Tillbakaspridd elektrondetektor, Backscattered electron detector (BSD)
• STEM: detektor för avsökning av transmissionselektronmikroskopi
• EDS: detektor för energidispersionsspektroskopi, X-Max 80 mm2 SDD, Oxford Instruments.
• EBSD: HKLNordlysN-detektor för elektron backscatter diffraction (Oxford Instruments).
  
  Ansvarig: Liang Yu

Svepelektronmikroskopi – Jeol JSM-IT300

Jeol JSM-IT300 Låg och högvakuum SEM med EDS och EBSD. Bildupplösning på ungefär 10 nm och är utrustat med:

• Möjlighet till analys i lågt vakuum
• Stor kammare för stora prover eller detaljer
• BSE detektor
• SEI detektor
• EDS: X-Max 80 ifrån Oxford Systems
• EBSD: Nordlys Max3 ifrån Oxford systems

För EDS samt EBSD används Aztec samt Channel5 från Oxford Systems

Ansvarig: Erik Nilsson

Röntgentomografi – Zeiss Xradia 620 Versa

Zeiss Xradia 620 Versa (Carl Zeiss Microscopy)

• 3D-avbildning av intern mikrostruktur
• ​Max rumsupplösning: 0.5 μm (Min voxelstorlek: 40 nm)
• Bildfält (FOV): 0.1-50 mm (Provstorlek: 0.1-200 mm)
• Absorption- och faskontrastavbildning
• In-situ belastningsmodul: Deben CT5000TEC (5 kN kompression/drag, temperatur -20/+160°C)
• 3D kristallografisk avbildning med LabDCT (lab-based Diffraction Contrast Tomography)
• Kvantitativ analys av struktur (storleksfördelning, form, volymfraktion av partiklar/fibrer/celler/defekter etc)
• Kvantitativ analys av deformation (3D-analys av förskjutning och töjning med DVC)

LUMIA kan hantera det mesta inom provtillverkning och provberedning inför analys samt har även vana att hantera okonventionella provtyper.

Ansvarig: Henrik Lycksam

Så här hänvisar du till LUMIA i dina publikationer (i Acknowledgement). Det är lite olika beroende på vilket lab du använt:

For the LUMIA labs, SEM Merlin, SEM Magellan, SEM Jeol, XCT Xradia

The [specify the type] investigations were carried out using the LUMIA (Luleå Material Imaging and Analysis) research infrastructure at Luleå University of Technology.

For the FIB SEM LUMIA/WISE laboratory

The [specify the type] investigations were carried out using the WISE ACT@LUMIA/Wise EST Research and Technology Platforms, which were funded by the Knut and Alice Wallenberg Foundation via the Wallenberg Initiative Materials Science for Sustainability (WISE). These technology platforms are hosted by the research infrastructure LUMIA (Luleå Material Imaging and Analysis) at Luleå University of Technology.

For the dynamic XCT LUMIA/WISE laboratory

The [specify the type] investigations were carried out using the WISE ACT@LUMIA Research and Technology Platform, which was funded by the Knut and Alice Wallenberg Foundation via the Wallenberg Initiative Materials Science for Sustainability (WISE). Thistechnology platform is hosted by the research infrastructure LUMIA (Luleå Material Imaging and Analysis) at Luleå University of Technology.