Hoppa till innehållet
Extreme High Resolution Scanning Electron Microscope (XHR-SEM)
Visa originalbild , Öppnas i nytt fönster/flik

Extreme High Resolution Scanning Electron Microscope (XHR-SEM)

Publicerad: 27 november 2018

Mikroskopet är en Magellan 400 från företaget FEI. Den är utrustad med 6 detektorer:

  • ETD: Everhart-Thornley detektor
  • TLD: genomlinsdetektor (in-lens)
  • vCD: högspänningsdetektor med låg spänning
  • STEM: detektor för avsökning av transmissionselektronmikroskopi
  • EDS: detektor för energidispersionsspektroskopi. Instrumentet är utrustat med en X-Max 80 Silicon Drift Detector (Oxford Instruments)
  • EBSD: detektor för elektron backscatter diffaction. Instrumentet är utrustat med en HKLNordlysNano EBSD detektor (Oxford Instruments).

Viktigaste egenskaper:

  • Schottky emitter
  • Subnanometerupplösning från 1 till 30kV
  • Beam decceleration
  • monokromator
  • Beam ström ned till 0,8 pA
Liang Yu

Liang Yu, Biträdande professor

Telefon: 0920-493002
E-post: liang.yu@ltu.se
Organisation: Kemisk teknologi, Kemiteknik, Institutionen för samhällsbyggnad och naturresurser