Kontakt och bokning
Har du ett material du behöver få analyserat? Tycker du det är besvärligt att veta vilka analysmetoder som är bäst? Kontakta oss så kan vi diskutera lämpliga analysmetoder som passar just ditt behov.
Om du är osäker på vilket labb som passar dina behov och det du behöver få analyserat, kontakta oss på den här mailadressen lumia@ltu.se för en diskussion om vad som är lämpligt för just dina prover.
Verksamhetsledare
Expertis inom mineralogi och avancerad karakterisering av geologiska prover som underlag för beslutsfattande inom mineralprospektering, utvinning, miljö, metallåtervinning och klimatåtgärder. Analysmetoder som vanligtvis används är SEM-EDS/WDS, EPMA, LA ICP MS, XCT, XRF.
Experter
Expertis inom Mikrotomografi (XCT, microCT) och 3D/4D avbildning och materialkaraktärisering. Studier omfattar material såsom mineraler, metaller, trä- och cellulosabaserade material, polymera kompositer, pulver och granulära material, och kvantitativ analys av mikrostruktur (korn, fibrer, porositet, defekter etc), deformation och töjning (med DVC).
Expertis inom karakterisering av metalliska material. Mikrostrukturkarakterisering (LOM, SEM, SEM+EBSD), fraktografi, haveriundersökningar (SEM) samt provberedning.
Stor erfarenhet av olika experimentella metoder och avbildningstekniker, med särskilt fokus på mikrotomografi (XCT, microCT). Studier omfattar material såsom mineraler, metaller, trä- och cellulosabaserade material, polymera kompositer, pulver och granulära material, och karaktärisering med 3D/4D absoption- och faskontrast XCT och kvantativ analys av inre struktur.
Expertis inom materialografi där t.ex. mikrostrukturer eller brottytor av material undersöks för att förstå dess egenskaper efter lämplig provberedning. Vanliga utvärderingsmetoder omfattar LOM, SEM-EDS/EDX samt EBSD.
Jag har expertis inom multi-modal och multi-dimensionell mikroanalytisk karakterisering av geomaterial. Min expertis är inom design av arbetsflöden och korrelation mellan olika mikroanalytiska metoder (tex. SEM-EDS/WDS, X-CT, μXRF, LA-ICP-MS, Automated Mineralogy) med särskilt fokus på avbildning med SEM-EDS/WDS.
Min expertis inkluderar SEM-arbete vid extrema analytiska förhållanden, mikrostrukturell karakterisering av ultra-tunna filmer och nano-partiklar, och fas- och kemisk analys.
Uppdaterad:
Sidansvarig: Kontakt