Laboratorier och utrustning inom LUMIA
Inom LUMIA analyseras en stor variation av fasta material. Karaktärisering görs både gällande avbildning och kemisk sammansättning, oftast i mikro- till nanometerskala.

Svepelektronmikroskopi – Zeiss Merlin
Zeiss Merlin FEG-SEM med EDS/WDS. Mikroskopet har en bildupplösning på ca 0,8 nm och är utrustat med:
- dubbla BSE-detektorer
- dubbla SE-detektorer (standard och in-lens)
- EDS (energidispersiv spektrometri)
- WDS (våglängdsdispersiv spektrometri)
För EDS/WDS-analys används analysplattformarna Aztec/Inca från Oxford Instruments. Möjligheter till automatiserad mineralogi finns via Aztec Feature samt Large Area Mapping.
Ansvarig: Mathis Warlo

Svepelektronmikroskopi – FEI Magellan
FEI Magellan 400 FEG-SEM (extreme high resolution SEM). Mikroskopet har en bildupplösning på ca 0,5 nm (0.5-30 kV) och är utrustat med:
- ETD: Everhart-Thornley detektor
- TLD: genomlinsdetektor (in-lens, extreme high resolution)
- vCD: Tillbakaspridd elektrondetektor, Backscattered electron detector (BSD)
- STEM: detektor för avsökning av transmissionselektronmikroskopi
- EDS: detektor för energidispersionsspektroskopi, X-Max 80 mm2 SDD, Oxford Instruments.
- EBSD: HKLNordlysN-detektor för elektron backscatter diffraction (Oxford Instruments).
Ansvarig: Liang Yu

Svepelektronmikroskopi – Jeol JSM-IT300
Jeol JSM-IT300 Låg och högvakuum SEM med EDS och EBSD. Bildupplösning på ungefär 10 nm och är utrustat med:
- Möjlighet till analys i lågt vakuum
- Stor kammare för stora prover eller detaljer
- BSE detektor
- SEI detektor
- EDS: X-Max 80 ifrån Oxford Systems
- EBSD: Nordlys Max3 ifrån Oxford systems
För EDS samt EBSD används Aztec samt Channel5 från Oxford Systems
Ansvarig: Erik Nilsson

Röntgentomografi – Zeiss Xradia 620 Versa
Zeiss Xradia 620 Versa (Carl Zeiss Microscopy)
- 3D-avbildning av intern mikrostruktur
- Max rumsupplösning: 0.5 μm (Min voxelstorlek: 40 nm)
- Bildfält (FOV): 0.1-50 mm (Provstorlek: 0.1-200 mm)
- Absorption- och faskontrastavbildning
- In-situ belastningsmodul: Deben CT5000TEC (5 kN kompression/drag, temperatur -20/+160°C)
- 3D kristallografisk avbildning med LabDCT (lab-based Diffraction Contrast Tomography)
- Kvantitativ analys av struktur (storleksfördelning, form, volymfraktion av partiklar/fibrer/celler/defekter etc)
- Kvantitativ analys av deformation (3D-analys av förskjutning och töjning med DVC)
LUMIA kan hantera det mesta inom provtillverkning och provberedning inför analys samt har även vana att hantera okonventionella provtyper.
Ansvarig: Henrik Lycksam
Uppdaterad:
Sidansvarig: Kontakt